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激光光學元件檢測

健明迪檢測提供的激光光學元件檢測,檢測項目 透過率,反射率,波前畸變,面形偏差,低溫,高溫,檢測標準:電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫GB/T2423.1,具有CMA,CNAS認證資質。
激光光學元件檢測
我們的服務 激光光學元件檢測

檢測優(yōu)勢

1、初檢樣品小樣,初檢期間不收取任何費用。

2、健明迪檢測國家高新技術企業(yè)。

3、健明迪檢測所出具的食品檢測報告認可,支持掃碼查詢真?zhèn)巍?/p>

4、健明迪檢測多家實驗室分支,支持上門取樣,也支持寄樣檢測。

5、檢測周期全,檢測費用低,實驗方案齊全。

檢測標準

激光光學元件測試方法 GJB1487-92101

光學和光子學一平面光學元件的透射率和反射率測量 ISO 15368:2021 8.1.3

激光棒波前暗變的測量方法 GB/T 11297.1-2017

光學零件的面形偏差 GB/T2831-20097.3

電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫 GB/T 2423.1-2008/IEC60068-2-1:20075.2

光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第2部分:低溫、高溫、濕熱 GB/T 12085.2-20104.2.2

電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫 GB/T 2423.2-2008/IEC 60068-2-2:20075.2

光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第2部分:低溫、高溫、濕熱 GB/T 12085.2-20104.2.3

環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2016/IEC 60068-2-78:2012

光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第2部分:低溫、高溫、濕熱 GB/T 12085.2-20104.2.4

檢測項目

透過率,反射率,波前畸變,面形偏差,低溫,高溫,濕熱等

檢測周期:7-15個工作日,試驗可加急

檢測樣品:激光、光學元件

哪里可以做激光光學元件檢測?試驗項目:透過率,反射率,波前畸變,面形偏差,低溫,高溫,濕熱等,檢測標準:電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫 GB/T 2423.1-2008/IEC60068-2-1:20075.2
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