檢測流程

1、寄樣

2、免費的初檢

3、報價表

4、兩方確認，簽署保密協議書，開使試驗

5、7-10個工作日左右完成試驗

6、中后期服務，郵寄檢測報告!

我們的檢測有哪些優勢?

產品評估：成分分析，分析成分比例，改善生產缺陷，提升產品品質性能

政府監管：工商檢測，市場監督，項目投標招標，申請退稅基金等

上市品控：保證自己的產品能順利進入各種電商品臺，商超等

打通市場：增強企業的認知可信度，擴大市場占有率，提高企業競爭力，彰顯產品品質

工業診斷：為您解決工藝、材料中的未知物定性定量分析服務

檢測標準

ASA S2.20-1983估計單一點空中爆炸空氣爆炸特征和測量大氣電磁輻射傳播和影響

BS EN 60255-25-2000繼電器.測量繼電器和保護設備的電磁輻射試驗

BS EN 61967-1-2002集成電路 150 kHz～1 GHz電磁輻射的測量 第1部分:一般條件和定義 IEC 61967-1:2002

BS EN 61967-4-2002集成電路 150 kHz～1 GHz電磁輻射的測量 第4部分:傳導輻射的測量 1 ohm/150 ohm直接耦合法 IEC 61967-4:2002

BS EN 61967-5-2003集成電路 150 kHz～1 GHz電磁輻射的測量 第5部分:傳導輻射的測量 工作臺法拉第機架法

CEI 47-1025-V1-2011集成電路. 150千赫至1千兆赫電磁輻射的測量.第6部分:傳導輻射的測量.磁性探針法

CEI EN 61967-1-2002集成電路. 150千赫至1千兆赫電磁輻射的測量.第1部分:一般條件和定義

CEI EN 61967-2-2006集成電路. 150千赫至1千兆赫電磁輻射的測量.第2部分:輻射輻射的測量，瞬變電磁室和寬帶瞬變電磁室法.第一版

CEI EN 61967-4-2009集成電路. 150千赫至1千兆赫電磁輻射的測量.第4部分:傳導輻射的測量. 1歐姆/150歐姆直接耦合法

CEI EN 61967-5-2004集成電路. 150千赫至1千兆赫電磁輻射的測量.第5部分:傳導輻射的測量.工作臺法拉第籠法.第一版

CEI EN 61967-6-2009集成電路. 150千赫至1千兆赫電磁輻射的測量.第6部分:傳導輻射的測量.磁性探針法

CEI EN 61967-8-2012集成電路.電磁輻射測量.第8部分:輻射測量.集成電路帶狀線法

DIN 32780-100-2002防護服.第100部分:頻率范圍80MHz～1GHz防電磁輻射服

DIN EN 61967-2-2006集成電路 150 kHz-1 GHz電磁輻射的測量 第2部分:放射輻射的測量 TEM單元和寬帶TEM單元方法

DIN EN 61967-6-2008集成電路 150kHz-1GHz電磁輻射的測量 第6部分:傳導輻射的測量 磁探針法

DIN EN 61967-8-2012集成電路 電磁輻射的測量 第8部分：放射輻射的測量 IC帶狀線法

GB/T 3102.6-1993光及有關電磁輻射的量和單位

GB 4706.29-2008家用和類似用途電器的安全 便攜式電磁灶的特殊要求

GB 13614-2012短波無線電收信臺(站)及測向臺(站)電磁環境要求

GB 13618-1992對空情報雷達站電磁環境防護要求